Rp 0
Kratos Axis Ultra Spectrometer sistem spektroskopi fotoelektron sinar-X yang menggabungkan sensitivitas tinggi dengan kemampuan pencitraan permukaan (surface imaging) yang luar biasa. Instrumen ini dirancang untuk memberikan informasi kimiawi yang paling mendalam dari lapisan nanometer teratas material.
Keren sih.. Sebelum mengirim sampel proses diskusi dengan admin sangat membantu. Sampel dengan massa yang sedikit saja mereka mau mencoba mengukurnya. Terima kasih. Smga semakin jaya lihat selengkapnya
Ulasan untukX-Ray Diffraction (XRD)
Hasil pengujian dan kesimpulan yang disampaikan sangat mudah dipahami semoga bisa dipertahankan untuk pelayanan nya lihat selengkapnya
Ulasan untukFourier Transform Infra-Red (FTIR)
Ulasan untukZeta Potential Analyzer (ZPA)
Ulasan untukParticle Size Analysis (PSA)
Ulasan untukFourier Transform Infra-Red (FTIR)
Rp 650.000
Karakterisasi yang dibutuhkan untuk mengamati morfologi permukaan material dan sekaligus mengetahui komposisi unsur pada permukaannya secara akurat.
Rp 650.000
Karakterisasi untuk mengukur luas permukaan spesifik dan distribusi pori material Kamu.
Rp 250.000
Karakterisasi untuk identifikasi gugus fungsi dan komposisi molekuler material Kamu.
Rp 100.000
Evaluasi untuk memahami sifat dan kinerja elektrokimia material serta device (divais) Kamu
Rp 550.000
Analisa XRF untuk identifikasi cepat dan kuantifikasi unsur dalam material Kamu
Rp 400.000
Karakterisasi untuk identifikasi fasa dan komposisi kristalin material
Rp 450.000
Analisa termal untuk studi stabilitas, dekomposisi, dan transisi fasa material Kamu.
Rp 125.000
Analisa UV-Vis untuk kuantifikasi konsentrasi dan studi sifat optik material Kamu.
