• Tentang Kami
  • Berita
  • Karir
  • Hubungi Kami
Atur jumlah sampel dan catatan
1
...
logo

R&D DIVISION LABOTOPIA PT. Teman Lab Indonesia (512) Jl. Ciumbuleuit No.73, Hegarmanah, Kec. Cidadap, Kota Bandung, Jawa Barat 40141

Links
Tentang Kami
Berita
Karir
Hubungi Kami
Karakterisasi Material
Bahan dan Barang Penelitian
Socials
@labotopia
Labotopia
Contacts
info@labotopia.id
+62-8132-2300-034
Sales Contacts
fadlan.raihan@labotopia.id
+62-857-0405-0646
Labotopia Copyright © 2026 reserved
Bandung, Indonesia

X-Ray Diffraction (XRD)

Rp 0

Difraksi Sinar-X (XRD) adalah salah satu teknik analisis fundamental yang paling diandalkan untuk mengkarakterisasi material padat, terutama yang bersifat kristalin. Metode ini bekerja layaknya "sidik jari" unik untuk setiap material, karena mampu mengidentifikasi dengan presisi jenis fasa-fasa kristal yang terkandung dalam sampel Kamu.

Dengan menganalisis pola difraksi yang khas saat sinar-X berinteraksi dengan sampel Kamu, XRD tidak hanya mengungkap identitas fasa. Lebih jauh lagi, teknik ini dapat memberikan informasi detail mengenai struktur kristal, tingkat kristalinitas (derajat kekristalan), perkiraan ukuran kristalit, hingga adanya regangan (strain) dalam kisi kristal material Kamu.

Informasi dari XRD ini krusial untuk pengembangan material baru, kontrol kualitas, maupun pemecahan masalah dalam riset Kamu. Tim ahli Labotopia siap membantu Kamu tidak hanya dalam mendapatkan data XRD untuk material yang kamu sintesis, tetapi juga dalam berdiskusi untuk memahami setiap hasil yang diperoleh bagi kemajuan riset Kamu.

Ulasan pelanggan

5

/5.0
100% pembeli merasa puas
2 rating . 0 ulasan
5
2
4
0
3
0
2
0
1
0

Ulasan Pilihan

Urutkan

6/5/2026
IW
Irma Wahyuningtyas - Politeknik Pertanian Negeri Samarinda

23/7/2025
RM
R**** M******  - Ipb University

Atur jumlah sampel dan catatan
1
Rp 0

Lihat Karakterisasi Lainnya

image of characterization Scanning Electron Microscope (SEM)

Scanning Electron Microscope (SEM)

Rp 650.000

Karakterisasi yang dibutuhkan untuk mengamati morfologi permukaan material dan sekaligus mengetahui komposisi unsur pada permukaannya secara akurat.

image of characterization BET Surface and Pore Analyzer

BET Surface and Pore Analyzer

Rp 650.000

Karakterisasi untuk mengukur luas permukaan spesifik dan distribusi pori material Kamu.

image of characterization Fourier Transform Infra-Red (FTIR)

Fourier Transform Infra-Red (FTIR)

Rp 200.000

Karakterisasi untuk identifikasi gugus fungsi dan komposisi molekuler material Kamu.

image of characterization Pengujian Elektrokimia (Custom Melalui Admin)

Pengujian Elektrokimia (Custom Melalui Admin)

Rp 100.000

Evaluasi untuk memahami sifat dan kinerja elektrokimia material serta device (divais) Kamu

image of characterization X-ray Fluorescence (XRF)

X-ray Fluorescence (XRF)

Rp 550.000

Analisa XRF untuk identifikasi cepat dan kuantifikasi unsur dalam material Kamu

image of characterization Analisis TG/DTA (Thermogravimetric Analysis / Differential Thermal Analysis)

Analisis TG/DTA (Thermogravimetric Analysis / Differential Thermal Analysis)

Rp 450.000

Analisa termal untuk studi stabilitas, dekomposisi, dan transisi fasa material Kamu.

image of characterization UV-Vis Spectrophotometer

UV-Vis Spectrophotometer

Rp 125.000

Analisa UV-Vis untuk kuantifikasi konsentrasi dan studi sifat optik material Kamu.

image of characterization Particle Size Analysis (PSA)

Particle Size Analysis (PSA)

Rp 300.000

Analisa PSA untuk mengetahui distribusi dan ukuran partikel material Kamu secara akurat